武汉大学第四届高分辨率对地观测学术年会在召开
测绘网讯 9月17日-18日，第四届高分辨率对地观测学术年会在武汉大学信息学部隆重举行。高分辨率遥感就是对遥感数据的质量和数量要求很高的遥感技术。如卫星影像的地面分辨率由10m、5m、2m、1m、甚至0.6m 逐步提高。高分辨率遥感图像的产生，不仅使土地利用、城市规划、环境监测等民用方面有了更便利、更详细的数据来源，而且,对于军事目标识别、战场环境仿真来说有着更为重要的意义。
本届年会由高分辨率对地观测系统重大专项管理办公室、中国科学院重大科技任务局、中国航天科技集团公司宇航部、中国航天科工集团公司空间工程部、中国测绘学会摄影测量与遥感专业委员会主办，由武汉大学、国防科技大学、中国航天科工集团第四研究院共同承办。来自国内外高校、科研院所、企业单位7位院士以及1200余名代表、学生参加了会议。
年会以“精致为用”为主题，集中体现了高分专项“精确探测、精细处理、精准应用、精益求精”的宗旨与追求，充分代表了我国高分辨率对地观测的发展方向及战略需求。
开幕式上，武汉大学窦贤康校长，高分专项副总师、专家委员会副主任艾长春高工，科技部高新司梅建平副巡视员、国防科工局重大专项工程中心赵文波副主任等领导专家发表了热情洋溢的致辞，高度肯定了高分专项自2010年启动实施以来取得的重大成就，并对专项的后续发展和高分年会表达了良好祝愿！
大会表彰了高分无人飞行器智能感知竞赛、“航天星图杯”高分数据处理软件大赛获奖团队，以及优秀论文作者、高分青年创新基金代表，7位院士和相关领导、专家为他们颁发了奖金和奖杯。
大会特邀报告环节，李德仁院士、杨元喜院士、王家耀院士、吴一戎院士、窦贤康教授、意大利米兰理工大学Stefano Tebaldini 教授等专家学者分别围绕空天信息实时智能服务系统、低轨卫星星载GNSS定轨方法、时空大数据平台、微波成像技术、量子激光雷达、空间多静态合成孔径雷达成像等领域做了专题报告。其他多位知名专家也围绕高分辨率对地观测技术做了大会报告，同与会代表开展了学术交流。
分会主题报告环节，与会专家和代表分别围绕前沿理论与方法、先进载荷技术、全球观测与一带一路、军民融合与商业航天、精细化信息处理与成像质量提升、系统平台与总体技术、地理空间大数据与国情监测等技术领域展开交流研讨。
年会举办期间，中国工程院院士樊邦奎教授等专家学者还分赴华中师范大学、中国地质大学（武汉）、武汉外国语学校等学校开展了科普宣传讲座，普及高分辨率对地观测领域的科学知识和前沿技术。
据悉，高分学术年会作为国内高分辨率对地观测领域的年度盛会，汇集了本领域的顶尖专家和行业用户，持续聚焦军民融合、一带一路、成果转化等政策和技术热点，充分研讨高分新思想、新技术、新方法、新发展，有力推动了高分体制机制和技术创新以及产业升级，显著提升了专项的品牌效益。
自高分专项启动，特别是我国卫星大量发射以后，中国遥感行业进入工程应用的新阶段。随着高分系统的推进，数据源和数据质量都有大幅提升，其在国土、水利、农业、环保以及测绘行业的应用蓬勃发展。武汉大学等一批专注于遥感、测绘领域研究的高校及科研单位的参与，为我国遥感技术的发展以及高分系统的应用做出了巨大贡献。我国的遥感数据处理技术上在国际上处于领先地位，武汉大学遥感学科也在2017世界大学排名中心公布的世界大学学科排名中名列世界第一。（测绘网 小会）
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